掃描電鏡能譜儀是用來對材料微區(qū)成分進(jìn)行分析的一種儀器，通常配合掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡及掃描透射電子顯微鏡使用。其工作模式一般為以下幾個(gè)方面。

點(diǎn)分析

電子束固定再試樣感興趣的點(diǎn)上，進(jìn)行定性或定量分析。該方法準(zhǔn)確度高，用于顯微結(jié)構(gòu)的成分分析，對低含量元素定量的試樣，只能用點(diǎn)分析。

線掃描

電子束沿一條分析線進(jìn)行掃描時(shí) ，能獲得元素含量變化的線分布曲線 。結(jié)果和試樣形貌像對照分析能直觀地獲得元素在不同相或區(qū)域內(nèi)的分布 。

元素面分布

電子束在試樣表面掃描時(shí)，元素在試樣表面的分布能在屏幕上以亮度(或彩色)分布顯示出來，亮度越亮說明元素含量越高。研究材料中雜質(zhì)、相的分布和元素偏析常用此方法。

ZEM15臺式掃描電鏡能譜一體機(jī)

以上就是澤攸科技小編為您介紹的掃描電鏡能譜儀的幾種工作模式。更多掃描電鏡信息及價(jià)格請咨詢