在掃描電鏡（SEM）成像時，如果圖像對比度太低，可以通過以下方法調整改善：

1. 調整探測器設置

切換探測器類型：比如在二次電子（SE）和背散射電子（BSE）探測器之間切換，不同探測器成像特性不同，SE 圖通常細節更清晰，BSE 圖通常成分對比更明顯。

優化探測器增益（Gain）：適當提高增益能增強信號，但過高容易引入噪聲。

2. 優化束流參數

降低電子束電流（Beam Current）：太高的電流容易讓圖像發白、細節丟失，適當減小可提升對比度。

優化加速電壓（Accelerating Voltage）：

低電壓（1–5 kV）有助于表面細節成像，對比度好。

高電壓（10–20 kV）穿透深，但可能降低表面細節對比。

3. 調整成像參數

動態范圍調節（Brightness/Contrast）：

降低亮度，增加對比度，使灰階分布拉開。

縮短掃描時間：

快速掃描減少充電效應，也能保持清晰度，避免過曝。

4. 樣品處理

改善樣品導電性：

如果樣品帶電，會導致成像發灰、對比度低?？梢酝ㄟ^噴金、碳鍍膜等方式提升表面導電性。

優化樣品傾角：

適當傾斜樣品可以增加表面結構的陰影效果，增強立體感和對比度。

5. 后期軟件調整

成像后，可以使用電鏡自帶軟件或者其他圖像處理軟件（如 ImageJ）適度調整亮度/對比度。

注意不要后期拉得過度，以免失真。