掃描電鏡（SEM）樣品臺通常可以調節(jié)角度，這是樣品臺設計中的一個重要功能，具體包括傾斜（tilt）和旋轉（rotate）兩個方向的調節(jié)。其主要作用如下：

一、調角度的基本方式

傾斜（Tilt）：通常在 -5° 到 +70° 之間可調，有些設備甚至支持更大范圍。

旋轉（Rotate）：可以繞垂直軸旋轉，角度范圍一般為 360°。

二、調節(jié)角度的作用

優(yōu)化成像視角

通過傾斜樣品，可以從不同角度觀察其表面結構，獲得更加立體或真實的圖像，特別適用于觀察微觀結構的高度差或凹凸不平的表面。

提高成分分析效率（EDS 等）

EDS 探測器一般位于側面，為了提高探測效率，可以將樣品臺傾斜，使待分析表面朝向探測器，減小X射線路徑被樣品本體遮擋的可能，增強信號強度。

進行晶體取向分析（如 EBSD）

EBSD 分析時需要將樣品臺傾斜至 70° 左右，以使電子束以合適角度入射到樣品表面，從而獲得清晰的背散射電子衍射圖樣。

尋找合適的觀測面

對于不規(guī)則樣品，可以通過旋轉和傾斜找到平整且對準電子束的觀測區(qū)域，提高成像質量。

避免充電效應

對于非導電樣品，適當調整角度有時可以分散電子束入射區(qū)域，降低局部充電的風險，改善成像效果。

三、使用注意事項

調角時要避免樣品碰撞電子槍或探測器；

在高倍率或進行精細分析前，應鎖定樣品臺，防止移動；

傾斜角度過大時，景深變化明顯，需重新聚焦；

部分分析（如定量EDS）在高傾角時可能出現(xiàn)幾何畸變，需要修正。